电镜扫描检测SEM/EDS分析表面形貌分析
电镜扫描检测SEM/EDS分析表面形貌分析：
纳米级微观形貌观察，常用的是SEM扫描电子显微镜，结合打能谱，就是X-射线能量色谱仪（EDS）相结合, 可以指定微区成分分析、测元素含量。
EDS通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。
雷竞技免费下载 精密拥有独立电镜实验室，面向全国，提供扫描电镜SEM与EDS分析检测服务，寄样即测。
电镜扫描SEM与EDS分析分析案例：
形貌观察SEM
微观尺寸测量
IMC观察-SEM电镜观察
锡须观察
表面成分分析
颗粒观察
纳米级微观形貌观察，常用的是SEM扫描电子显微镜，结合打能谱，就是X-射线能量色谱仪（EDS）相结合, 可以指定微区成分分析、测元素含量。
电镜扫描SEM：利用阴极所发射的电子束经阳极加速，由磁透镜加速后形成一束直径为几十埃到几千埃的电子束流，这束高能电子束轰击到样品表面会激发多种信息，经过分别收集，放大就能从显示屏上得到各种相应的图像。SEM主要利用背散射电子（BEI）和二次电子（SEI）来成像，可以对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察及成分分析。
EDS通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。
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电镜扫描SEM与EDS分析分析案例：
形貌观察SEM
微观尺寸测量
IMC观察-SEM电镜观察
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表面成分分析
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