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高精度测量仪器

蔡司三维X射线显微镜Xradia 410 Versa

蔡司Xradia三维显微镜,Xradia 410 VersaX射线显微镜可提供无损3D成像,采用光学加几何放大的成像架构,可实现大样品高分辨率成像。可提供高衬度和可调节的增强相位衬度成像模式。为您的不同尺寸、不同类型的样品提供强大的、经济高效无损三维成像能力。

产品特点:
1. 三维无损成像
2. 900 nm真实空间分辨率
3. 大工作距离下高分辨率,可实现不同类型、尺寸样品多尺度成像
4. 吸收、相位衬度成像模式
5. 4D 原位成像能力

应用领域:
1. 材料科学,如三维无损分析
2. 生命科学,如微观结构成像
3. 地球科学,如地质、油气、矿产、古生物等三维成像
4. 电子和半导体行业,如形貌测量及失效分析
5. 原位力学、变温试验

蔡司三维X射线显微镜Xradia 410 Versa

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